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测试共源共栅氮化镓 FET

发表时间:2024-04-08 10:20:02 浏览:28
Cascode GaN FET 动态测试面临的挑战

Cascode GaN FET 比其他类型的 GaN 功率器件更早进入市场,因为它可以提供常关操作并具有更宽的栅极驱动电压范围。然而,电路设计人员发现该器件在实际电路中使用起来并不那么容易,因为它很容易发生振荡,并且其器件特性很难测量并获得可重复的提取。许多设计人员在电路中使用大栅极电阻时必须减慢器件的运行速度,这降低了使用快速 GaN 功率器件的优势。

图 1 显示了关断时的发散振荡。图 2 显示了导通时的大栅极电压振铃。两者都与图 3 所示的 Cascode GaN 器件(低压 Si MOSFET 和高压 GaN HEMT 的共源共栅)的独特结构有关。